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授课班级 ELEC6437P.01

微纳器件测试基础

Fundamentals of micro and nano device testing

2026年春季学期 高新区 34 / 40

March 2026

周次
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第 1 周
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上课事件

3/3/2026 · 14:00-16:40 · GT-B108 · 图书教育中心B楼 · 高新区

第 1 周 · 节次 0-0

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上课事件

3/5/2026 · 14:00-16:40 · G3-114 · 3号学科楼 · 高新区

第 1 周 · 节次 0-0

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第 2 周
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3/10/2026 · 14:00-16:40 · GT-B108 · 图书教育中心B楼 · 高新区

第 2 周 · 节次 0-0

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3/12/2026 · 14:00-16:40 · G3-114 · 3号学科楼 · 高新区

第 2 周 · 节次 0-0

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第 3 周
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3/17/2026 · 14:00-16:40 · GT-B108 · 图书教育中心B楼 · 高新区

第 3 周 · 节次 0-0

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3/19/2026 · 14:00-16:40 · G3-114 · 3号学科楼 · 高新区

第 3 周 · 节次 0-0

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第 4 周
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3/24/2026 · 14:00-16:40 · GT-B108 · 图书教育中心B楼 · 高新区

第 4 周 · 节次 0-0

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3/26/2026 · 14:00-16:40 · G3-114 · 3号学科楼 · 高新区

第 4 周 · 节次 0-0

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第 5 周
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3/31/2026 · 14:00-16:40 · GT-B108 · 图书教育中心B楼 · 高新区

第 5 周 · 节次 0-0

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4/2/2026 · 14:00-16:40 · G3-114 · 3号学科楼 · 高新区

第 5 周 · 节次 0-0

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第 6 周
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4/7/2026 · 14:00-16:40 · GT-B108 · 图书教育中心B楼 · 高新区

第 6 周 · 节次 0-0

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4/9/2026 · 14:00-16:40 · G3-114 · 3号学科楼 · 高新区

第 6 周 · 节次 0-0

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